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Hommel Etamic

Una línea de Jenoptik. Sistemas de medición y ensayo en amplia gama de productos estándar, los cuales también sirven como base para el desarrollo de sistemas que se adapten a las necesidades específicas en planta, con tecnologías sin contacto para medición de rugosidad de formas y perfiles en el taller, laboratorio y en línea de producción. Hommel Etamic hace posible supervisar y garantizar eficazmente la calidad e sus piezas de trabajo a lo largo de todo el proceso de producción.


Hommel Etamic México
W5

Con impresora P5 Opcional con conexión Bluetooth®

Incluye batería recargable de alto rendimiento que permite hasta 800 mediciones en una sola carga. Los palpadores de rugosidad se cambian fácilmente y es posible medir en cualquier posición, incluso hacia arriba.

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W5

Longitud máxima de trayecto:

17.5 mm

Velocidad de Medición:

​0.15 | 0.5 | 1 mm/s

Rango de Medición:

T1E probe: ±100 μm/6 nm 

Software:

Evovis Mobile Measurement and Evaluation, con capacidad de guardar hasta 5 programas de medición.


W10

Impresora térmica integrada 

Para documentar inmediatamente las evaluaciones de tolerancia, perfiles, curvas de Abott y estadísticas. El Software Evovis Mobile cuenta con siete programas diferentes que se manejan a través de la pantalla táctil. Palpación transversal para mediciones hacia en vertical

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W10

Longitud máxima de trayecto:

17.5 mm

Velocidad de Medición:

​0.15 | 0.5 | 1 mm/s

Rango de Medición:

T1E probe: ±100 μm/6 nm 

Software:

Evovis Mobile Measurement and Evaluation

W15W15 con stand de medición de altura opcional.

Medición modular de rugosidad en cualquier posición

Las patas extensibles del trípode y un soporte de 3 puntos en el dispositivo de avance permiten ajustar la posición de medición deseada con facilidad.

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Longitud máxima de trayecto:

17.5 mm

Velocidad de Medición:

​0.15 | 0.5 | 1 mm/s

Rango de Medición:

T1E probe: ±100 μm/6 nm 

Software:

Evovis Mobile Measurement and Evaluation

W15

W40EL set W40 tiene stand de medición de altura opcional.

Waveline Xmove 20 permite medir rugosidad, ondulación y perfil

Descenso motorizado de palpador para posicionamiento automático, en cualquier orientación y posición, incluyendo hacia arriba con los palpadores adecuados.

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W40

Longitud máxima de trayecto:

20 mm

Descenso de palpador;

4 mm

Velocidad de Medición:

​0.15 | 0.5 | 1 mm/s

Rango de Medición:

T1E probe: ±100 μm/6 nm 

Software:

Evovis Mobile Measurement and Evaluation

F900W920 Tiene ejes adicionales opcionales.

Palpador Nanoscan para medir rugosidad y contorno

Diseñado para Metrología de Alto Rendimiento, como el entorno de cadenas automatizadas de procesos.

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Longitud máxima de trayecto:

500 mm en columna

200 mm transversal

W920

Puede ser equipado opcionalmente con un brazo de palpado con doble punta.

Mediciones de forma, rugosidad y torsión con alineación automática de piezas

Todo en una sola sujeción de piezas. Con ejes controlados por CNC y equipados con mesa giratoria neumática de alta precisión. Adecuados para ámbitos de producción en serie y tareas de metrología que cambian frecuentemente.

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F900

Longitud máxima de trayecto:

20 mm

Descenso de palpador;

4 mm

Velocidad de Medición:

​0.15 | 0.5 | 1 mm/s

Rango de Medición:

T1E probe: ±100 μm/6 nm 

Software:

Evovis Mobile Measurement and Evaluation

Ejes X e Y opcionales para posicionamiento preciso de la pieza.

Inspección Óptica de Orificios sin intervención del operador

Para instalación fuera de línea, los equipos Visionline V200 inspeccionan orificios en superficies directo en el taller, tienen sensor B5 o B20 y detectan huecos, poros, arañazos o hendiduras. 

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Longitud máxima de trayecto:

500 mm en columna

200 mm transversal

V200